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| | 上海电子产品可靠性试验和元器件失效分析高级研修班培训招生
招生学校：北京中企华夏管理咨询中心[专栏][咨询]
摘要：从事电子信息产品的研发、品质管理、生产、测试、采购、使用、可靠性保障等工作的管理和技术人员。
全文：2008.3.27 （9：0012：00 13：00—17：00）
(一) 可靠性试验总论
1. 可靠性技术指标的描述和评估 2. 可靠性鉴定试验与其他鉴定试验的综合管理
(二) 可靠性试验
1. 可靠性鉴定试验 2. 可靠性试验大纲
3. 可靠性筛选试验与环境应力筛选 4. 可靠性试验的故障管理，FRACAS系统；网络版FRACAS系统5. 可靠性增长试验的典型案例
(三)加速寿命试验
1．加速寿命试验的几个模型.2.加速寿命试验参数估计及加速因子 3．案例 4．双应力加速寿命试验模型和应用实例
(四)高加速试验－HART & HARSS 试验
1．HART & HARSS 试验应用与发展现状.2.HART & HARSS 试验基本原理和工程实现 3．高加速试验的效果和局限
4.综合应力快速试验
5．应用研究
2008.3.28 （9：0012：00 13：00—17：00）
一、 电子元器件失效分析技术
1.失效分析的基本概念和一般程序2.失效分析的电测试 3.无损失效分析4.模拟失效分析 5.制样技术6.形貌像技术 7.扫描电镜电压衬度像8.热点检测技术 9.聚焦离子束技术10．微区化学成分分析技术二、分立半导体器件和集成电路的失效机理和案例1．塑料封装失效 2．引线键合失效3．水汽和离子沾污 4．介质失效5．过电应力 6．闩锁效应7．静电放电 8．金属电迁移9．金属电化学腐蚀 10．金属-半导体接触退化11．芯片粘结失效
2008.3.29 （9：0012：00 13：00—17：00）
三、电子元件失效机理、分析方法和纠正措施及案例
1.电阻器 2.电容器3.继电器 4.连接器5.印刷电路板第四部分 微波半导体器件失效机理和案例第五部分 混合集成电路失效机理和案例第六部分 其它器件的失效机理和案例
学校：北京中企华夏管理咨询中心
课程：电子产品可靠性试验和元器件失效分析高级研修班参考学费：2200 | 学制：3天 | 名额：30 | 授课：邮件索取 | 形式：面授 报名：013488873646 [网上报名/招生咨询]电邮： 1007chenyang [@] 163.comQQ：362087575地址：北京市海淀区 |
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