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| | 东莞电子产品实用可靠性设计和试验技术培训招生
招生学校：中国电子电器可靠性工程协会[专栏][咨询]
摘要：◆ 实用可靠性设计和实验技术一、概述：可靠性基本知识、可靠性的发展方向、如何运用可靠性的特征量、如何看MTBF二、可靠性设计概念和运用：降额、简化设计、冗余、容差、热设计、可靠性预计、可靠性增长（RGT） 三、元器件的故障模式、影响及采用的对策电子产品常见的失效 无源器件常见失效原因、寿命计算电子器件常见失效原因、寿命评价方法机电元件常见失效原因和对策集成电路如何的主要故障特点及对策。可编程
全文：
关于举办“电子产品实用可靠性设计和试验技术”高级研修班的通知
各有关单位：
为了帮助信息电子产品制造业质量工作和技术人员掌握加深对元器件的故障模式、影响及危害的认识，学习如何正确选择电子元器件，设计中掌握如何延长电子产品的使用寿命，中国电子电器可靠性工程协会决定组织召开“电子产品实用可靠性设计和试验技术高级研修班”。 课程通过大量的分析案例（多于60项）讲解和剖析，加深对产品设计可靠性的理解，掌握电子产品可靠性设计及失效分析、可靠性试验的技能和方法，全面提升设计人员的可靠性技术水平，解决实际产品设计存在的问题。现具体事宜通知如下：
一、主办单位：中国电子电器可靠性工程协会；
二、承办单位：北京怀远文化传播中心；
三、培训时间、地点：2天·东莞 2008年1月24-25日，1月23日报到；
四、课程对象：电子产品（组件及电子设备）制造行业的设计人员、可靠性试验评价、设计评审和故障分析人员。
五、课程提纲：课程大纲以根据学员要求，上课时会有所调整，具体以报到时的讲义为准。
◆ 实用可靠性设计和实验技术一、概述：可靠性基本知识、可靠性的发展方向、如何运用可靠性的特征量、如何看MTBF二、可靠性设计概念和运用：降额、简化设计、冗余、容差、热设计、可靠性预计、可靠性增长（RGT） 三、元器件的故障模式、影响及采用的对策电子产品常见的失效 无源器件常见失效原因、寿命计算电子器件常见失效原因、寿命评价方法机电元件常见失效原因和对策集成电路如何的主要故障特点及对策。可编程器件程序设计对可靠性的影响静电和闩锁对电子产品的破坏和预防设计四、整机设计规则 热设计、版图设计、接地和抗干扰、三防和防尘设计、结构和防振设计、安全性设计五、装配、生产工艺对产品可靠性的影响焊接、静电防护、生产工序、PCB制备、离子污染六、环境试验对产品缺陷暴露的作用1．温度应力对产品的影响 2．湿度对产品的影响3．机械应力对产品的影响4．环境试验内容高温试验低温试验温度变化试验湿热试验机械振动腐蚀试验 其他试验 七、筛选试验筛选的作用和筛选度筛选应力的选择如何快速暴露产品缺陷（HALT）高加速应力筛选（HASS）介绍环境试验的顺序与分组相关标准实施步骤可靠性设计的评价内容可靠性分配和可靠性预计可靠性预计的现状与新的评价思路可靠性增长试验设计审查和监督
六、培训费用：2200元/人（含培训、资料、证书、午餐费）。请在开班前传真报名回执表。我们将在开班前2天内传真《报到通知书》，告知具体地点及行车路线；
七、培训证书：中国电子电器可靠性工程协会培训证书；
八、师资介绍：
冯敬东：男 高级工程师，在信产部电子第五研究所从事元器件与集成电路可靠性工作近30年。研究的压力传感器评价课题获得国防科技二等奖，曾多次为培训机构和整机厂所开设“老化、筛选和环境试验”。获得了非常好效果和极高的评价。曾在国内多家著名公司（清华同方、富士康等企业）进行内训。
九、联系方式：
电 话：010-67699312
传 真：010-67699312 67642668
E-MAIL：li.zhijie@163.com
联系人：李志杰（13552213140）
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